При тестировании электронных модулей современными тестовыми системами выполняется множество различных проверок и испытаний. Их основная задача – обнаружение и локализация дефекта с последующим его устранением...
Совтест АТЕ
0
subscribers
Блог компании Совтест АТЕ, новости микро и радиоэлектроники
Loading...
30 мая предприятие «Совтест АТЕ» стало участником VI международной научно-технической конференции. Заместитель Генерального директора по науке Д.М. Урманов выступил с докладом «Перспективы применения современных МЭМС-датчиков и инерциальных навигационных систем на их основе в аэрокосмической сфере»...
30 мая состоялось выездное заседание общественно-экспертного Совета по вопросам развития предпринимательства города Курска.
В этом году заседание общественно-экспертного Совета по вопросам развития предпринимательства города Курска решено было провести на новом заводе «Датчики и системы» предприятия «Совтест АТЕ»...
В своей деятельности ООО «Совтест АТЕ» прикладывает всё больше усилий к решению задачи, как построить эффективное, интеллектуальное и в целом разумное производство. Заказчикам поставляется не разрозненный...
By scrolling further, you agree to the Terms and Conditions of the Yandex Zen service.
Read full text of User AgreementInspectis C12, цифровой микроскоп от стратегического партнера компании Nikon Metrology, является идеальным решением для визуального контроля и инспекции.
На прошедшей в конце апреля 2017 г. выставке «ЭкспоЭлектроника-2017» данный микроскоп пользовался повышенным вниманием у посетителей стенда «Совтест АТЕ»...
Updating