Эффективная стратегия тестирования. Опыт компании «Foxconn».

1 June 2018

При тестировании электронных модулей современными тестовыми системами выполняется множество различных проверок и испытаний. Их основная задача – обнаружение и локализация дефекта с последующим его устранением. Однако случается так, что некоторые дефекты тестовая система может пропустить, при этом в целом изделие будет работать. И если на начальном этапе эксплуатации такого электронного модуля это может и не повлиять на его работоспособность, то в дальнейшем пропущенные дефекты станут причиной нестабильной работы или даже приведут к полному отказу всего изделия и к сокращению срока его службы.

Эффективная стратегия тестирования. Опыт компании «Foxconn».

Как же обнаружить подобные неисправности и в целом снизить количество бракованной продукции? Данная тема и служит предметом предлагаемой Вашему вниманию статьи, причем рассматривается она на примере технологий тестирования хорошо известного контрактного производителя – транснациональной корпорации Foxconn.

Недостатки стандартной модели тестирования при производстве электроники

В зависимости от типа производства (мелкосерийное, средне- или крупносерийное) и его технического оснащения применяются различные стратегии тестирования выпускаемой электронной продукции.

Читать полную статью